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AI+大幅面解决方案
以AI为核心的检测算法，结合自研的混合光学系统和稳定的自动化方案，为大幅面线扫检测应用场景提供了更高效、更高准确性的检测解决方案。

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解决方案概述

在大幅面检测场景中，玻璃和光学膜的检测尤其具有特殊性。由于产品的透明状态，对光学成像的要求极高。考拉悠然科技的AOI检测技术旨在帮助半导体制造商提升检测精度和效率，结合先进的混合光学系统和AI算法，能够快速准确地检测和分类半导体产品中的缺陷。


解决方案优势

  • 01

    高效精准的缺陷分类

    主动学习AI算法通过快速学习和适应，能够精确分类缺陷，显著缩短导入周期，提升分类准确性。
  • 02

    精准成像的混合光源系统

    混合光源光学系统能够精确呈现产品缺陷，通过在不同位置的缺陷在混合光学系统中的成像差异，准确区分缺陷位置。
  • 03

    智能数据报表输出

    具备智能数据报表功能，能够自动生成、分析和展示数据报表。
  • 04

    稳定的传送系统

    传送系统具备高精度，确保产品震动控制在≤0.17mm，满足高标准检测需求。
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解决方案应用场景

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成功案例

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